株式会社ワイアイケージャパン（YIKJ）製品情報

MT8311

システム概要: MT8311 メモリテストシステムは、DRAM及びNANDフラッシュの高速テストと高いスループットを両立した次世代のメモリテストシステムです。

MT8311　主な特長
1. 業界最高水準のスループット
最大6,144個のデバイスを同時測定することができます。
2. 柔軟なチャネル割り当て
パーピンTGアーキテクチャを採用することで、端数を伴うウエハ測定において、デバイスあたりの最適なチャネル構成を実現できます。
3. 柔軟なユニット構成
DRV、I/O、DPS、LDRの各チャネル数において、お客様のニーズに合わせて最適なシステム構成を提供することができます。
4. 不良救済解析の大容量化及び高速化
デバイスの大容量化、ECC機能に適した、最大24Tビットの不良解析メモリと最大192個並列の解析処理により、テスト時間の短縮と歩留まり改善に貢献します。

MT8311　基本仕様
最高動作周波数	333 MHz / 667 Mbps
最大並列個数	6,144個 / TH
テストヘッド	最大2台　（テストヘッドごとに別々のデバイスを測定可能）

MT6133

システム概要: MT6133 メモリテストシステムは、300mmウェハラインの多種メモリデバイスに対応し、さらなるコストパフォーマンスの向上を目指して開発された次世代の評価・解析・量産用メモリテストシステムです。

MT6133　主な特長
1. ハイコストパフォーマンス & 多品種生産対応
(1) メモリデバイスをテストヘッドあたり最大1536個同時測定が可能。　さらに各テストヘッドが独立してテストスタートが可能なため、大幅に生産性が向上。 (2) テストヘッドごとに別々の製品テストをすることが可能なため、多品種生産に最適。
2. すべてのメモリデバイスのウェハテスト工程に対応
(1) DRAM, NAND Flash, NOR Flash, SRAM, MCPなどに対応。 (2) ウェハテストとともに、KGD (Known Good Die) に対応。
3. 低消費電力
最新デバイスの採用と電源利用の効率化により従来当社比30%の消費電力を削減。
4. ユーザフレンドリ
GUI対応のユーザインタフェース AViPSによる開発、解析時間短縮に対応。

MT6133　基本仕様
最高動作周波数	444 MHz / 888 Mbps
最大並列個数	1536個（× 2 bits品）/ TH
テストヘッド	2台　（テストヘッドごとに別々のデバイスを測定可能）

MT6122

システム概要: MT6122 メモリテストシステムは、MT6133 メモリテストシステムと共通のプラットフォームを採用し、主にフラッシュメモリのウェハテストを実行するために開発されたコストパフォーマンスの高い評価・解析・量産用メモリテストシステムです。

MT6122　主な特長
1. 動作周波数やDC測定精度、スループットをフレキシブルに選択することができるプラットフォームを採用
(1) メモリデバイスをテストヘッドあたり最大2048個同時測定が可能。　さらに動作周波数の拡張やピン数の増設が可能。 (2) ユニットを拡張することでMT6133相当にアップグレード可能。
2. 主要なメモリデバイスのウェハテスト工程に対応
NAND Flash, DRAM, NOR Flashなどに対応。
3. 低価格・低消費電力
最適なユニット構成により価格と消費電力を削減。

MT6122　基本仕様
最高動作周波数	222 MHz / 444 Mbps
最大並列個数	2048個 / TH
テストヘッド	2台　（テストヘッドごとに別々のデバイスを測定可能）

MT6135S

システム概要: MT6135S メモリテストシステムは、1テストヘッドシステムとしてフレキシブルなフロアレイアウトに対応した評価・解析・量産用メモリテストシステムです。

MT6135S　主な特長
1. 1テストヘッドシステム
(1) メモリデバイスをシステムあたり最大1536個同時測定が可能。 (2) フットプリントが小さく、フロアレイアウトの最適化に寄与。
2. すべてのメモリデバイスのウェハテスト工程に対応
(1) DRAM, NAND Flash, PRAM, HBM, NOR Flash, SRAM, MCPなどに対応。 (2) ウェハテストとともに、KGD (Known Good Die) に対応。
3. 低価格・低消費電力
フレームやユニット構成を最適化することで価格と消費電力を削減。

MT6135S　基本仕様
最高動作周波数	444 MHz / 888 Mbps
最大並列個数	1536個（× 2 bits品）
テストヘッド	1台